射線高分辨率測(cè)試模體

簡(jiǎn)要描述：射線高分辨率測(cè)試模體，分辨力測(cè)試卡的使用方法：把測(cè)試卡直接貼到影像增強(qiáng)器輸入面上，或放置在攝影床上，使球管的中心與測(cè)試卡的中心相一致，擺放位置為45度角，按照所規(guī)定的條件（KV/MA)進(jìn)行曝光，調(diào)節(jié)顯示器的對(duì)比度，讀取相應(yīng)的線對(duì)值，即系統(tǒng)的分辨率。

產(chǎn)品型號(hào)：
廠商性質(zhì)：經(jīng)銷商
更新時(shí)間：2024-03-25
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射線高分辨率測(cè)試模體

產(chǎn)品編號(hào)：SY20240322-9射線高分辨率測(cè)試模體

產(chǎn)品廠家：廊坊玉雙儀器設(shè)備有限公司

產(chǎn)品介紹：分辨力測(cè)試卡的使用方法：把測(cè)試卡直接貼到影像增強(qiáng)器輸入面上，或放置在攝影床上，使球管的中心與測(cè)試卡的中心相一致，擺放位置為45度角，按照所規(guī)定的條件（KV/MA)進(jìn)行曝光，調(diào)節(jié)顯示器的對(duì)比度，讀取相應(yīng)的線對(duì)值，即系統(tǒng)的分辨率。

產(chǎn)品編碼：SY20240322-9射線高分辨率測(cè)試模體

射線（綜合）圖像分辨力（率）測(cè)試卡是鉛合金和其密度相當(dāng)?shù)慕饘俚戎瞥?。圖像測(cè)試卡分為綜合分辨力（率）測(cè)試卡、分辨力（率）測(cè)試卡、圖像灰度測(cè)試模體、星形測(cè)試卡、圖像標(biāo)尺、圖像坐標(biāo)標(biāo)尺準(zhǔn)值筒/光野射野一致性檢測(cè)板；半值層片；動(dòng)態(tài)階梯、CR、DR檢測(cè)模體等，它們主要應(yīng)用于工業(yè)射線透視無(wú)損檢測(cè)、工業(yè)CT成及數(shù)字化醫(yī)用X射線（DR/CR)，圖像膠片成像等性能的測(cè)試。

工業(yè)、醫(yī)用綜合分辨力（率）測(cè)試卡，主要規(guī)格為12寸、9寸、6寸等。JD-B工業(yè)無(wú)損檢測(cè)、醫(yī)療用分辨力（率）測(cè)試卡主要規(guī)格分為8-34LP/cm、14-40LP/cm 、6-50LP/cm，JDR-300數(shù)字化醫(yī)用X射線（DR/CR)測(cè) 試模體。其中JD-B工業(yè)無(wú)損檢測(cè)分辨力（率）測(cè)試卡（計(jì)）是按JB/T10815-2007 GB/T23903-2009標(biāo)準(zhǔn)制作而成，JDR-300檢測(cè)模體是按JJG1078-2012醫(yī)用數(shù)字?jǐn)z影（CR/DR)系統(tǒng)X射線輻射源計(jì)量檢定規(guī)程和YY/T0608-2007、YY/0741-2009標(biāo)準(zhǔn)制作而成。